加速寿命试验箱
发布日期：2020/11/5 14:34:50 点击次数：3532
加速寿命试验箱广泛应用于集成电路/微电子/IC等领域，其试验目的是提高环境应力，如温度与工作应力施加给产品的电压/负荷等，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析被测试样品何时出现的磨耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障。分布函数呈现什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
产品特点
智慧型饱和蒸汽温度值，人力控制装置与 饱和蒸汽压力检知
白金温度传感器（PT-100型）感知精确 温度
圆形棋置式内箱结构设计，方便待测样品 取置与蒸汽冲击隔离装置
专利自动压力安全门闩锁控制装置
全自动真空清洁程序，减低试品污染
另可扩充功能：记录温湿度/压力
性能技术指标
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型号
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TY-HAST-40
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测试箱尺寸(φ*D)mm
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400
X 500
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外箱尺寸(W*H*D)mm
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709
X 950 X 1674
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温度控制范围
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100°C-135°C
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温度波动范围
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±0.5°C
( 85°C~135°C/100%RH )
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湿度控制范围
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65%RH~100%RH
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湿度波动范围
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±3%RH
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最大压力
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0.019-0.208MPa
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电源
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220VAC ±10%, 50HZ, 20A
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符合标准
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GB;
ISO; ASTM; ULCEN--
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